3月２１日に日本大学との勉強会を開催しました。これは研究の活性化のために行なっているものです。私たちの研究室からは、中島が「故障の許容性に基づくテスト生成アルゴリズム」、周藤が「故障の許容性を考慮したテスト生成のための回路モデル」、平本が「必須割当て情報に基づくテストデータ削減のためのテストポイント挿入」、怒和が「ハイブリッドスキャンにおけるスキュードロードFF選択法」について発表しました。活発に議論されたので、とても良い経験になったと思います。これからも研究を頑張っていきましょう。