11月23日~26日までAsian Test Symposium(ATS’09)が台湾で，11月27~28にWorkshop on RTL and High Level Testing(WRTLT’09)が香港で行われました．
ATSでは市原先生が「A Practical Approach to Threshold Test Generation for Error Tolerant Circuits」というタイトルで発表されました．
WRTLTでは深沢先輩が「A Design of Concurrently Testable Response Analyzers in Bult-in Self-Test」というタイトルで発表されました．
本当におつかれさまでした．