タイトル：衝突回避による固定制御可検査性に基づくテスト容易化設計法の改良について
著者: 川原雄大, 市原英行, 井上智生
雑誌名：FIT2005
発行月: 9
発行年: 2005
タイプ: techreport
アブストラクト: 大規模集積回路に対するテスト生成を効率よく行う方法として，階層テ
スト生成がある．本論文では，階層テスト容易化設計法の1つである，固
定制御可検査性に基づくテスト容易化設計法の改良法を提案する．タイ
ミング衝突（１つの外部入力から１つの回路要素の異なる2つの入力ま
での制御経路の順序深度が等しいこと）の少ない制御林を生成するための
アルゴリズムを用いることで，回避するために必要な回路要素の付加を
削減できる．さらに，提案手法では付加したバイパスMUXを用いたテス
トプラン長の削減について考察する．テストプラン長を削減することで，
テスト実行時間の削減が期待できる．また，計算機実験では，ベンチマ
ーク回路を用いて従来法との比較を行い，提案手法の有効性を示す．
