タイトル:On An Effective Selection of IDDQ Measurement Vectors for Sequential Circuits

著者: Hideyuki Ichihara, Seiji Kajihara, Kozo Kinoshita

雑誌名:The Eighth Asian Test Symposium

ページ: 147-152

発行月: 11

発行年: 1999

タイプ: inproceedings

アブストラクト: NULL