タイトル：Performance analysis of parallel test generation for combinational circuits
著者: Tomoo Inoue, Takashi Fujii, Hideo Fujiwara
雑誌名：IEICE Trans. on Information and Systems
Volume: E79-D
Number: 9
ページ: 1257-1265
発行月: 9
発行年: 1996
タイプ: article
アブストラクト: NULL
