タイトル：LSIテストにおける再構成可能な埋込み展開器について
著者: 佐伯友之, 市原英行, 井上智生
雑誌名：信学技報
Volume: 105
Number: 42
ページ: 1-6
発行月: 5
発行年: 2005
タイプ: techreport
アブストラクト: 製造したLSIの故障を検出するテスト工程において，LSIの大規模化に伴いテストデータサイズの増大という問題が発生している．この問題を解決するため，被テストLSI内部に埋込まれた展開器を用い圧縮したテストデータを展開する手法がある．本論文では，テストデータに応じて再構成可能な埋込み展開器モデルを提案し，３つの符号化手法を対象とした展開器アーキテクチャの一例を示す．さらに，SoCコアのテストにおけるテストデータ圧縮率と再構成に必要なプログラムデータサイズについて考察する．
