タイトル：An Optimal Test Bus Design for Transparency-based SoC Test
著者: Tomokazu Yoneda, Akiko Shuto, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
雑誌名：Workshop on RTL and High Level Testing
ページ: 21-26
発行月: 11
発行年: 2006
タイプ: inproceedings
タイトル：An Optimal Test Bus Design for Transparency-based SoC Test
著者: Tomokazu Yoneda, Akiko Shuto, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
雑誌名：Workshop on RTL and High Level Testing
ページ: 21-26
発行月: 11
発行年: 2006
タイプ: inproceedings
