タイトル：A Practical Threshold Test Generation for Error Tolerant Application
著者: Hideyuki Ichihara, Kenta Sutoh, Yuki Yoshikawa, Tomoo Inoue
雑誌名：IEICE Trans. Inf. & Syst.
Volume: E93-D
Number: 10
ページ: 2776-2782
発行月: 10
発行年: 2010
タイプ: article
リファレンス: http://search.ieice.org/bin/summary.php?id=e93-d_10_2776&category=D&year=2010&lang=E&abst=
