タイトル：A broadside test generation method for transition faults in partial scan circuits
著者: Tsuyoshi Iwagaki, Satoshi Ohtake, Hideo Fujiwara
雑誌名：IEICE Technical Report (DC2005-54)
Volume: 105
Number: 443
ページ: 7-12
発行月: 12
発行年: 2005
タイプ: techreport
タイトル：A broadside test generation method for transition faults in partial scan circuits
著者: Tsuyoshi Iwagaki, Satoshi Ohtake, Hideo Fujiwara
雑誌名：IEICE Technical Report (DC2005-54)
Volume: 105
Number: 443
ページ: 7-12
発行月: 12
発行年: 2005
タイプ: techreport
