タイトル:A broadside test generation method for transition faults in partial scan circuits

著者: Tsuyoshi Iwagaki, Satoshi Ohtake, Hideo Fujiwara

雑誌名:IEICE Technical Report (DC2005-54)

Volume: 105

Number: 443

ページ: 7-12

発行月: 12

発行年: 2005

タイプ: techreport